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Silmatソケット(シートソケット・エラストマーソケット)
[PHOENIX TEST ARRAYS]
Silmat®ソケットは、非常に短い電気経路を用いて業界内で最高レベルのシグナルインテグリティーと電流容量が提供可能なエラストマーソケットで、RF/ミリ波等の高周波、高精度なアナログ&ミックスドシグナル等の各種デバイスの厳しいテスト要求に対応可能なインターポーザーソケットです。
一般的なシートソケットに比べて革新的な機能と耐久性のあるSilmat®ソケットのコンポーネントは、厳しいテスト環境及び生産ラインで多くの信頼性と安定性のある結果を得られます。
性能比較表
Silmat® コンタクトシステム |
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Silmat® コンタクトシステム |
C200 | C300 | C400 | G100 | SMU-150 | ||||
ハイパフォーマンス コンタクト |
2ピースシステム | 2ピースシステム | 1ピースシステム | 1ピースシステム | 1ピースシステム | ||||
ハンドテスト & ハンドラー 自動機向け |
Gold Contact Set & | Gold Contact Set & | Silmat® インターポーザー |
Gold Contact Set | ユニバーサルSilmat® | ||||
(特許取得済の独自の コンタクト構造) |
Silmat®インターポーザー | Silmat®インターポーザー | (Gold Contact Set無し) | (Silmat®無し) | 0.15mm ピッチシート |
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パッケージ (BGA,LGA, QFN, CSP, PoP) |
全てのパッケージタイプ & サイズ、 全てのピン配列に対応 |
全てのパッケージタイプ & サイズ、 全てのピン配列に対応 |
全てのパッケージタイプ & サイズ、 全てのピン配列に対応 |
QFN / LGA only | リセスドタイプ以外に対応 | ||||
PKGの最小ピッチ (複合ピッチOK) |
0.5 mm | 0.35 mm | 0.3 mm | 0.35 mm | 0.35 mm | ||||
テスト時コンタクト長さ | 1.0 mm | 0.6 mm | 0.4 mm | 0.2 mm | 0.25 mm | ||||
周波数帯域 (S21 @ -1db Loss) |
40 Ghz | > 40 Ghz | > 40 Ghz | > 90 Ghz | > 40 Ghz (coax) | ||||
インダクタンス (自己/相互) |
0.22 / 0.05 nH | 0.13 / 0.03 nH | 0.10 / 0.03 nH | 0.06 / 0.01 nH | 0.08 (coax) / 0.03 nH |
||||
キャパシタンス (自己/相互) |
0.25 / 0.04 pF | 0.18 / 0.03 pF | 0.14 / 0.02 pF | 0.06 / 0.01 pF | 0.08 (coax) / 0.05 pF |
||||
接触抵抗 | < 25 mOhms | < 25 mOhms | < 25 mOhms | < 25 mOhms | < 25 mOhms | ||||
電流 (連続/パルス@1ピン) |
3.4A / 5.8A @ 20°C | 4.2A / 6.0A @ 20°C | 8.5A / 8.7A @ 20°C | > 10A / 20A @ 4°C | 5.3A / 5.3A @ 20°C | ||||
近接部品設置エリア | Within 0.5 mm | Within 0.5 mm | Within 0.5 mm | Within 0.5 mm | Within 0.1 mm | ||||
ストローク (最大/テスト時) |
0.38/0.23mm | 0.28/0.18mm | 0.23/0.13mm | 0.05mm (Gold Tips) |
0.18/0.10 mm | ||||
コンタクト荷重 (初期@1ピン) |
25-45 Grams | 25-45 Grams | 20-40 Grams | > 45 Grams | 20-60 Grams | ||||
操作温度 | -55°C~+155°C | -55°C~+155°C | -60°C~+200°C | -55°C~+155°C | -35°C~+125°C | ||||
ゴールドコンタクトセットの コンタクトライフ* |
> 2,000,000 | > 2,000,000 | n/a | > 1,000~100,000 | n/a | ||||
Silmat®インターポーザーの コンタクトライフ* |
>500,000 | >500,000 | > 1,000~100,000 | n/a | > 500~5,000 | ||||
特徴:ハイパフォーマンス 信頼性、 |
優れた堅牢性 | 優れた電気特性 | 優れた電気特性 | 超低インダクタンス | 優れた電気特性 | ||||
耐久性、高ストローク 簡易交換 |
ロングライフ、生産向け | ロングライフ、生産向け | 低コストカスタム | 優れたRF性能 | 低コスト、短納期 | ||||
= 低ランニングコスト | ATEに最適 | ATEに最適 | ハンドテスト B2B |
ハンドテスト 評価 |
ハンドテスト 評価/B2B |
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ターゲットアプリケーション | 多ピン/ RF ハイバワー |
RF/ミリ波 高速 |
RF/高速/ハイパワー | RF/高速/ハイパワー | RF/高速/ハイパワー | ||||
(ICテスト、産業、ミリタリー、医療) | 特性/SLT/ATE HVM | 特性/SLT/ATE HVM | 特性/SLT/Rel-BI/ B2B | Diamond Part. Replace | 特性/SLT/B2B |
*コンタクトライフは、パッケージ、基板、ストローク量、異物、テスト内容、テスト環境、取扱い、保守レベルなどを含む多くの要因に影響を受けるので、この値は変わり場合があります。
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- ハイスピード&高周波同軸テストソケット
(Xシリーズ) - 高周波デバイス及びハイスピードデバイス向けに開発された同軸プローブを用いたテストソケットです。
- ハイスピード&高周波同軸テストソケット
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- 高周波ワイピングコンタクトソケット
(Zシリーズ) - リードレスデバイスの高周波及び高電流テスト向けに開発されたワイピングコンタクトを用いたテストソケットです。
- 高周波ワイピングコンタクトソケット
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- ウエハレベル
テストソケット
(Wシリーズ) - スプリングプローブを用いることによるメンテナンス性、堅牢性、伸縮性を実現し、ウエハレベルテストに求められる狭ピッチと平坦性に対応します。
- ウエハレベル
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- ファミリーテストソケット(標準ソケット、UIG社)
- UIG社の標準ソケットは、ICデバイスサイズにより7タイプのサイズがあり、0.25mmピッチから対応します。
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- ハイパワーソケット
(Hシリーズ) - 超多ピンデバイスやハイパワーデバイス向けに開発された放熱機構リッド付きソケットです。
- ハイパワーソケット
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- MEMS/
センサーテストソケット - MEMSデバイスのマニュアルテスト/量産テスト向けに開発されたソケットです。
- MEMS/
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- PoPテストソケット
- PoPデバイスの組立て前のロジックデバイス向けに開発されたテストソケットです。
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- Silmatテストソケット
- 各種マニュアルテスト対応する小型クラムシェルソケット
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- ウルトラファイン
ピッチソケット - ICデバイスの狭ピッチ化に合わせた狭ピッチソケット
- ウルトラファイン
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- ケルビンプローブ
ソケット - 各種マニュアルテスト対応する小型クラムシェルソケット
- ケルビンプローブ
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- フルカスタム
テストソケット
(Contech社) - ご要求仕様に沿って精密な切削加工による高品質ソケット
- フルカスタム
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- セミカスタム
テストソケット
(Contech社) - メーカー標準仕様を用いたICデバイスに適したソケット
- セミカスタム
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