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ウエハレベルテストソケット
(Wシリーズ)

スプリングプローブを用いることによるメンテナンス性、堅牢性、伸縮性を実現し、ウエハレベルテストに求められる狭ピッチと平坦性に対応します。
仕様
- ・ピッチ: 150 ~500 μm
- ・ピン長さ: 2.4 ~ 8.8 mm
- ・デバイス周波数 >5GHzで信頼性のあるRFシグナルインテグリティ
- ・マルチサイト及び多ピンのオプション
- ・交換可能なカートリッジのオプション
- ・PCBの反りが最小限になるように最適化
- ・超耐久性&頻繁な清掃が要求される用途向けに最適な合金スプリングプローブ
- ・ハイパワー用途向けケルビンアプリケーションのオプション
- ・優れたコンタクト荷重制御及び容易なメンテナンス
ウエハレベルテストソケット構造



WLCSP Kelvin テストソケット
機械特性
ピッチ | ≧0.35 mmChip(BumporPad) |
---|---|
コンタクト材質 | ベリリウム銅/金メッキ 硬質カーボンスチール/金メッキ |
テスト時長さ | 3.5~5.42mm |
コンタクトライフ | 300Kサイクル |
コンタクト荷重 | 6~15gf@テスト時長さ(Overdrive80~200um) |
温度範囲 | -45~+125℃(SWPスプリング) -55~+150℃ (SUSスプリング) |


電気特性
電流 | 1.0A連続 |
---|---|
接触抵抗 | ≦180 mΩ |
積層構造
積層構造により、短いプローブが使用可能で、スタックプランジャーの変更により先端位置を調整可能。



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